著者典拠情報

標目形：
高野, 雅夫(1962-)||タカノ, マサオ
属性：
Personal
日付：
1962
注記：
SRC:走査線型X線分析顕微鏡を発展させた蛍光X線・回折X線顕微鏡の開発 / 高野雅夫 [ほか著] ([出版者不明], 2002.2)
名古屋大学理学部助教授(2002.2現在)、理学博士
専攻: 地球惑星科学
著者典拠ID：
DA13461888


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